Substrato Semicondutores em Estrututas Planares<br />DOI: 10.14209/jcis.1990.9

Abstract

Neste trabalho, são apresentados a teoria e resultados numérico-computacionasi relativos aos cálculos da constante de atenuação, da constante dielétrica efetiva e da impedância característica de linhas de lâminas bilaterais simétricas e unilaterais arbitrárias, utilizando material semiconduntor como substrato. na análise, o método da Linha de Transmissão Transversa (LTT) é aplicado na determinação dos componentes dos campos elétrico e magnético no domínio da transformada de Fourier e, a partir das condições de contorno e da aplicação do método dos momentos, a constante de propagação é calculada. Finalmente, a impedância característica é determinada usando os conceitos de potência transportada pela fenda e tensão da mesma.